Her bir kristal fazın kendine özgü atomik dizilimlerine bağlı olarak X-ışınlarını karakteristik bir düzen içerisinde kırması esasına dayanır. Her bir kristalin faz için bu kırınım profilleri bir nevi parmak izi gibi o kristali tanımlar. X-ışını kırınım analiz metodu, analiz sırasında numuneyi tahrip etmez ve çok az miktardaki numunelerin dahi (sıvı, toz, kristal ve ince film halindeki) analizlerinin yapılmasını sağlar.
The following processes are applied in BITAM Analysis processes. You can see short videos about the processes:
LABSİS GİRİŞ
ANALİZ TALEBİ
Frequently Asked Questions
Update: 2023-06-23 10:24:17
Panalytical/ Empyrean