Atomik boyuttaki sivri bir ucun yardımıyla, yüzeyin yüksek çözünürlükte, üç boyutlu görüntülenmesini sağlayan aynı zamanda malzeme yüzeyinin optik, elektriksel veya manyetik incelenmesinde kullanılan taramalı kuvvet mikroskobudur.
The following processes are applied in BITAM Analysis processes. You can see short videos about the processes:
LABSİS GİRİŞ
ANALİZ TALEBİ
Frequently Asked Questions
Update: 2023-06-23 10:34:25
Park System XE Series