Taramalı Elektron Mikroskobu (SEM), vakum altında hızlandırılmış elektronların odaklanmasını ve elektron demeti ile numune yüzeyinin taranmasını; o sırada numuneden üretilen sinyallerin tespit edilmesini ve üretilen sinyalleri bir ekrana aktararak numune yüzeyini mikro veya nano boyutta inceleme imkânı sağlayan bir görüntüleme cihazıdır.
The following processes are applied in BITAM Analysis processes. You can see short videos about the processes:
LABSİS GİRİŞ
ANALİZ TALEBİ
Frequently Asked Questions
Update: 2023-06-23 10:34:41
: HITACHI SU1510